TopMap Micro.View®是TopMap白光干涉仪系列中的紧凑型轮廓仪，以快速、可重复且高分辨率的表面表征能力脱颖而出。无论是微结构、纹理、质地还是面粗糙度参数（Sa、Sz等），都能以亚纳米分辨率高效扫描您的表面！
得益于集成的CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程范围在纳米级垂直分辨率下仍能实现完整的100毫米测量范围。这款光学轮廓仪因集成电子元件而结构紧凑，并凭借操作便捷性备受青睐——例如通过聚焦查找器在生产环境和检测实验室中实现快速高效测量。
 对粗糙度、纹理及微结构进行面三维形貌分析
 专攻表面细节的紧凑型系统
 采用CST连续扫描技术的100毫米垂直测量范围
 卓越的横向分辨率
 亚纳米分辨率测量
 操作界面支持预定义测量方案，实现一键式快速解决方案
 新增：扩展物镜选项0.6X...111X现已推出
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